Apple a demandé au tribunal qui supervise son procès contre OpenAI et io Products d'autoriser ses propres experts à examiner les images forensiques utilisées dans l'affaire. Le procès, déposé début juillet, accuse d'anciens employés d'Apple d'appropriation de secrets commerciaux. Apple allègue que l'ancien employé Chang Liu a coaché un autre employé sur les documents à réviser avant un entretien chez OpenAI, tandis que Tang Tan a demandé à des candidats à un emploi d'apporter des composants matériels aux entretiens.

Apple affirme qu'une inspection forensique du MacBook de Liu après son départ de l'entreprise a montré qu'il a utilisé un schéma de circuit confidentiel d'Apple pour exécuter une simulation tout en travaillant chez OpenAI. OpenAI a réfuté les allégations, arguant que les pratiques de départ prétendument laxistes d'Apple ont facilité la rétention d'informations confidentielles par les employés. Un point de discorde clé est la demande d'Apple pour une découverte accélérée, à laquelle OpenAI s'est opposé.

Apple soutient qu'elle a besoin d'un accès parce qu'OpenAI développe encore son produit matériel, rendant l'utilisation prétendue de secrets commerciaux de plus en plus difficile à annuler. Dans le dépôt conjoint, Apple demande au tribunal d'autoriser ses experts forensiques à examiner les images sous-jacentes sur lesquelles les experts des défendeurs se sont appuyés. Apple affirme que son expert a déjà identifié des défauts critiques dans l'analyse des défendeurs, y compris des échecs à localiser des fichiers sur le Mac Mini de Liu et des conclusions incorrectes sur les dates d'accès aux fichiers.

Apple fait valoir que donner à ses experts un accès direct est crucial pour comprendre d'autres erreurs. OpenAI propose qu'un expert forensique neutre gère les images dans le cadre d'un protocole convenu conjointement, arguant qu'Apple serait désavantagée autrement. Apple cherche également à obtenir un accès accéléré aux documents liés au développement matériel d'OpenAI, y compris les travaux sur les finitions métalliques et les systèmes d'alimentation.